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會議簡介尊敬的用戶和合作伙伴您好，感謝布魯克光譜部門的大力支持，“布魯克工業(yè)應用技術研討會”將于2025年8月25-26日在束蘊儀器(上海)有限公司倫琴實驗室舉行！屆時布魯克和倫琴實驗室的應用專家，將介紹最新的核磁共振（NMR）、X射線、原子力顯微鏡和光譜產(chǎn)品及應用解決方案，并在介紹之后演示我們的儀器。我們與布魯克誠摯地邀請您參加本次研討會，束蘊儀器與您在上海不見不散！會議時間2025年8月25-26日（兩天）會議地址倫琴實驗室&束蘊儀器(上海)有限公司地址：上海市松江區(qū)莘磚...

XRM應用文章布魯克納米CT賦能！仿生氣凝膠止血研究成果榮登《NanoLett.》1引言近日，一篇題為“CentrifugalSpinning-DerivedBiomimeticAerogelforRapidHemostasiswithMinimalBloodLoss”的研究論文在國際期刊《NanoLett.》（2025,25,6040?6050）發(fā)表。本文第一作者是東華大學紡織學院博士生符芬，通訊作者為東華大學紡織學院王富軍教授、曾泳春教授和趙帆特聘研究員。該研究聚焦于緊急...

在物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的探測領域中，X射線衍射與電子衍射是兩種極為重要的衍射技術，它們既有著鮮明的本質(zhì)區(qū)別，又存在一定的內(nèi)在聯(lián)系。X射線衍射，其原理基于X射線的波動性以及晶體中原子的周期性排列。X射線是一種波長與原子間距相當?shù)碾姶挪?，當它入射到晶體樣品時，晶體中的原子作為散射中心，會對X射線產(chǎn)生散射作用。根據(jù)布拉格定律，當入射X射線與晶面之間的夾角滿足特定條件時，各原子散射的X射線會在特定方向上相互干涉加強，形成衍射花樣。這種衍射能夠精準地反映出晶體的晶格結(jié)構(gòu)、晶面間距等微觀結(jié)構(gòu)信息...

在材料科學、物理學以及化學等諸多領域的研究進程中，精準解析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)至關重要。多晶X射線衍射儀與單晶衍射儀作為兩大核心探測工具，雖都基于X射線與晶體相互作用原理，卻在諸多方面存在明顯區(qū)別。從樣品要求來看，多晶衍射儀主要針對多晶樣品，無論是常見的金屬粉末、陶瓷顆粒，還是經(jīng)過特殊處理呈多晶態(tài)的塊狀材料，都能適配。這類樣品內(nèi)部晶粒取向隨機，眾多微小晶粒匯聚，整體呈現(xiàn)出統(tǒng)計平均的衍射效果。而單晶衍射儀則專攻單晶樣品，像精心培育的單晶硅、某些天然礦物的單晶體等，其內(nèi)部原子排列在三維...

在材料結(jié)構(gòu)分析領域，X射線衍射和電子衍射（如透射電鏡中的選區(qū)電子衍射SAED）是兩種重要的技術手段，它們在多個方面存在顯著差異。從光源特性來看，X射線衍射使用的X射線波長較短，通常在0.01-10納米范圍，能量較高，能穿透較厚樣品，對晶體內(nèi)部深層結(jié)構(gòu)信息探測能力強。而電子衍射中，電子束的波長極短，可小于0.01納米，這使得其分辨率遠高于X射線衍射，能觀察到更微觀的晶體結(jié)構(gòu)細節(jié)，但電子穿透能力弱，樣品需極薄，一般要求在納米級厚度。在衍射原理上，X射線衍射基于布拉格方程，當X射線...

在線X射線衍射儀（XRD）以其高效、實時的物相分析能力，在材料科學、化學工程及生物醫(yī)藥等領域發(fā)揮著重要作用。然而，對于非晶體或液態(tài)樣品，其適用性常引發(fā)討論。下面將從技術原理、實際應用及局限性等方面探討這一問題。一、技術原理與非晶體/液態(tài)樣品的特性XRD的核心原理基于晶體對X射線的衍射效應，通過布拉格定律分析晶面間距，從而推斷物質(zhì)結(jié)構(gòu)。晶體樣品因其長程有序的原子排列，能產(chǎn)生清晰的衍射峰，適合XRD分析。然而，非晶體（如玻璃、高分子材料）和液態(tài)樣品缺乏周期性結(jié)構(gòu)，無法形成典型的衍...

二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）在材料分析、表面科學等領域有著至關重要的地位，其分析深度和橫向分辨率的精準控制對于獲得準確且有價值的分析結(jié)果意義非凡。分析深度的控制是SIMS技術的關鍵要素之一。首先，離子束的能量起著基礎性作用。較高能量的一次束離子能夠更深入地轟擊樣品表面，從而增加分析深度。通過精確調(diào)節(jié)離子源的加速電壓，可以有效地改變一次束離子的能量，實現(xiàn)對分析深度的初步調(diào)控。例如，在研究多層薄膜結(jié)構(gòu)時，若需要分析底層薄膜元素組成，可適當提高離子束能量以穿透上層薄膜到達目標深度。此...

在半導體材料與器件研究的精密世界里，少子壽命測試儀探尋著半導體內(nèi)部少數(shù)載流子壽命的奧秘，為優(yōu)化材料性能、提升器件品質(zhì)提供關鍵線索。少子壽命測試儀的運行，始于對樣品的精細安置。待測半導體樣品被妥善放置在測試臺上，連接好電極，構(gòu)建起穩(wěn)定的電學回路，儀器核心的激發(fā)源隨即啟動，通常采用脈沖激光或電子束照射樣品。這一束光或電子，恰似吹響沖鋒號的先鋒，瞬間注入半導體內(nèi)部，打破熱平衡狀態(tài)，激發(fā)產(chǎn)生大量電子-空穴對，其中少數(shù)載流子（電子或空穴，取決于半導體類型）成為這場探測之旅的主角。當這些...